La reliure Compact Standard vide

La reliure Compact Standard vide
24,80 € *

Prix dont TVA 20%, plus frais de port

Prêt à être expédié. Délai de livraison : environ 5 à 7 jours ouvrés.

  • 7890_
Système de classement universel, le "Compact" permet de présenter de nombreuses collections : en...plus
Informations sur le produit "La reliure Compact Standard vide"

Système de classement universel, le "Compact" permet de présenter de nombreuses collections : en philatélie (timbres, FDC, enveloppes, notices 1er jour, etc.), cartes postales, mais également en numismatique et pour les pin's, les capsules de Champagne, etc.
La contenance des reliures est considérable : jusqu'à 200 enveloppes et 250 cartes ! Ils sont équipés d'une mécanique à 4 anneaux de grande qualité. Un procédé breveté fixe le dos de la reliure aux anneaux une fois l'album refermé, ce qui lui donne l'aspect et la stabilité d'un livre.
Deux types de reliures sont disponibles : la reliure Luxe ouatinée aspect cuir naturel et la reliure Standard en Yokama bleu.
Les formats : Reliure : 250 x 230 x 80 mm Boîtier assorti: 265 x 225 x 88 mm
Contenance des albums Compact : 60 feuilles pour cartes, 60 feuilles pour documents A5 ou lettres, 60 feuilles pour enveloppes.
Un boîtier assorti fait main est également proposé : Réf. 7870 : reliure Luxe vide Réf. 7890 : reliure Standard vide

Feuilles Compact

Liens supplémentaires vers "La reliure Compact Standard vide"
Lire, écr. et débatt. des analyses…plus
Évaluations de clients pour "La reliure Compact Standard vide"
Écrire une évaluation
Les évaluations sont publiées après vérification.

Les champs suivis d'un * sont des champs obligatoires.

J’ai pris connaissance de votre Politique de confidentialité

Reliure Favorite 778 avec boîtier Reliure Favorite 778 avec boîtier
79,50 € * 82,60 € *
Albums Compact pour documents A5 Albums Compact pour documents A5
À partir de 36,90 € *
Reliure Compact A4 "Classic" Reliure Compact A4 "Classic"
À partir de 25,90 € *
Album pour FDC Album pour FDC
À partir de 17,90 € *
Derniers articles consultés